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每日一練
章節(jié)練習
半導體集成電路問答題每日一練(2020.01.07)
來源:考試資料網(wǎng)
1.問答題
D/A變換器的設(shè)計原則應(yīng)從幾個方面權(quán)衡。
參考答案:
應(yīng)從以下四個方面來權(quán)衡:
A. 精度:如高精度儀表
B. 功耗:如便攜式處理
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2.問答題
如何計算killing ratio?
參考答案:
藉由defect map與yield map的迭圖與公式的運算,可算出某種缺陷對良率的殺傷力。
3.問答題
一般硅片的制造常以幾P幾M 及光罩層數(shù)(mask layer)來代表硅片工藝的時間長短,請問幾P幾M及光罩層數(shù)(mask layer)代表什么意義?
參考答案:
幾P幾M代表硅片的制造有幾層的Poly(多晶硅)和幾層的metal(金屬導線).一般0.15um 的邏輯產(chǎn)品為1P6M(...
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4.問答題
求解CMOS反相器的邏輯閾值,并說明它與哪些因素有關(guān)?
參考答案:
5.問答題
考慮一個電阻負載反相器電路:V
DD
=5V,K
N
`=20uA/V2 ,V
T0
=0.8V,R
L
=200KΩ,W/L=2。計算V
TC
曲線上的臨界電壓值(V
OL
、V
OH
、V
IL
、V
IH
)及電路的噪聲容限,并評價該直流反相器的設(shè)計質(zhì)量。
參考答案: