半導(dǎo)體集成電路章節(jié)練習(xí)(2020.01.07)
來(lái)源:考試資料網(wǎng)2.名詞解釋瞬態(tài)上升時(shí)間
參考答案:tr-輸出電壓Vo從低電平VOL上升到高電平VOH的時(shí)間間隔。Rise-上升。
4.問(wèn)答題一般硅片的制造(wafer process)過(guò)程包含哪些主要部分?
參考答案:①前段(frontend)-元器件(device)的制造過(guò)程。
②后段(backend)-金屬導(dǎo)線的連接及護(hù)層...
②后段(backend)-金屬導(dǎo)線的連接及護(hù)層...
參考答案:采用負(fù)載電阻會(huì)占用大量的芯片面積,而晶體管占用的硅片面積通常比負(fù)載電阻小,并且有源負(fù)載反相器電路比無(wú)源負(fù)載反相器有更好的...
6.問(wèn)答題運(yùn)用基區(qū)擴(kuò)散電阻,設(shè)計(jì)一個(gè)方塊電阻200歐,阻值為1K的電阻,已知耗散功率為 20W/cm2,該電阻上的壓降為5V,設(shè)計(jì)此電阻。
7.問(wèn)答題寫(xiě)出傳輸門(mén)電路主要的三種類型和他們的缺點(diǎn)。
參考答案:
NMOS傳輸門(mén),不能正確傳輸高電平
PMOS傳輸門(mén),不能正確傳輸?shù)碗娖?br />
CMOS傳輸門(mén),電路規(guī)模較大。
8.問(wèn)答題硅化物(salicide)的形成步驟主要可分為哪些?
參考答案:①Co(或Ti)+TiN的沉積;
②第一次RTA(快速熱處理)來(lái)形成Salicide。
③將未反應(yīng)的...
②第一次RTA(快速熱處理)來(lái)形成Salicide。
③將未反應(yīng)的...
9.問(wèn)答題YE工程師的主要工作內(nèi)容?
參考答案:① 負(fù)責(zé)生產(chǎn)過(guò)程中異常缺陷事故的追查分析及改善工作的調(diào)查與推動(dòng)。
② 評(píng)估并建立各項(xiàng)缺陷監(jiān)...
② 評(píng)估并建立各項(xiàng)缺陷監(jiān)...
