集成電路技術綜合練習章節(jié)練習(2018.03.06)

來源:考試資料網(wǎng)
參考答案:

異質結雙極性晶體管的發(fā)射極效率主要由禁帶寬度差決定,幾乎不受摻雜比的限制

參考答案:

P型雜質增加、N型雜質降低。

參考答案:在晶體中電離時能夠釋放電子而產(chǎn)生導電電子并形成正電中心的雜質為施主雜質;
在晶體中電離時能夠接受電子而產(chǎn)生導電...
參考答案:

系統(tǒng)知識,電路知識,工具知識,工藝知識

參考答案:

介質襯底的背面應該完全被低歐姆金屬覆蓋并接地,使行波的電場主要集中在微帶線下面的介質中。

參考答案:

增強型NMOS和耗盡型NMOS。

參考答案:

利用等離子體轟擊被濺射物質使其分子或原子逸出,淀積到基片表面形成薄膜

參考答案:

生長緩沖層、溝道區(qū)注入、離子注入、CVD工藝淀積多晶硅、多晶硅摻雜、光刻和刻蝕形成多晶硅柵的圖形。

參考答案:

雙極工藝為基礎的BiCMOS工藝用的多
影響B(tài)iCMOS器件性能的主要部分是雙極部分。