已知室溫(300K)下硅的禁帶寬度Eg≈1.12eV,價(jià)帶頂空穴和導(dǎo)帶底電子的有效質(zhì)量之比mp/mn≈0.55,導(dǎo)帶的有效狀態(tài)密度NC≈2.8*1019/cm3,kT≈0.026eV。試計(jì)算: 1)室溫(300K)下,純凈單晶硅的本征費(fèi)米能級(jí)Ei; 2)室溫(300K)下,摻磷濃度為1018/cm3的n型單晶硅的費(fèi)米能級(jí)EF。
已知晶格常數(shù)為a的一維晶格,其導(dǎo)帶和價(jià)帶極小值附近能 試求: 1)禁帶寬度; 2)導(dǎo)帶底電子有效質(zhì)量; 3)價(jià)帶頂電子有效質(zhì)量。