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三維光學(xué)掃描儀是目前三維形狀測(cè)量中最好的方法之一,主要缺點(diǎn)是不能掃描深色、透光物體、點(diǎn)云邊界不清晰等。
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三維光學(xué)掃描儀是目前三維形狀測(cè)量中最好的方法之一,主要優(yōu)點(diǎn)有測(cè)量范圍大、能掃略大曲率表面、易于操作等。
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三維光學(xué)掃描儀是目前三維形狀測(cè)量中最好的方法之一,主要優(yōu)點(diǎn)有測(cè)量范圍大、精度高、點(diǎn)云多、易于操作等。
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