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三維光學(xué)掃描儀是目前三維形狀測量中最好的方法之一,主要優(yōu)點(diǎn)有測量范圍大、精度高、點(diǎn)云多、易于操作等。
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三維光學(xué)掃描儀是目前三維形狀測量中最好的方法之一,主要優(yōu)點(diǎn)有測量范圍大、速度快、成本低、攜帶方便、易于操作等。
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三維光學(xué)掃描儀的基本原理是把紅光投影到物體表面,物體表面形狀不同讓投射過來的光柵影線發(fā)生不同的變形,再利用兩個(gè)工業(yè)相機(jī)獲取相應(yīng)圖像,通過解析變形影線,就可獲得圖像上像素的三維坐標(biāo),形成密集的三維點(diǎn)云。
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