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三維光學(xué)掃描儀是目前三維形狀測(cè)量中最好的方法之一,主要缺點(diǎn)精度相對(duì)較低、不適合掃描曲率大的表面、點(diǎn)云邊界不清晰等。
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三維光學(xué)掃描儀是目前三維形狀測(cè)量中最好的方法之一,主要缺點(diǎn)是不能掃描深色、不適合掃描曲率小的表面、透光物體、點(diǎn)云邊界不清晰等。
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三維光學(xué)掃描儀是目前三維形狀測(cè)量中最好的方法之一,主要缺點(diǎn)是不能掃描深色、透光物體、點(diǎn)云邊界不清晰等。
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