<style id="crix3"></style>

<td id="crix3"></td><noscript id="crix3"></noscript>

<i id="crix3"><ins id="crix3"></ins></i>

判斷題

AFM通常用來(lái)觀(guān)測(cè)樣品表面形貌。

答案：正確

你可能感興趣的試題

TEM觀(guān)測(cè)與SEM相同，對(duì)樣品厚度沒(méi)有要求。

答案：錯(cuò)誤

通常利用TEM觀(guān)測(cè)的分辨率高于SEM。

答案：正確

<td id="fziq5"><ins id="fziq5"></ins></td>

<source id="fziq5"></source>

<td id="fziq5"><optgroup id="fziq5"></optgroup></td>