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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】為什么可以利用x-射線衍射測(cè)定晶塊尺寸和晶格畸變？試簡(jiǎn)述測(cè)定的方法和主要步驟。
答案：
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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述什么是透射電子顯微像中的質(zhì)厚襯度、衍射襯度和相位襯度。形成衍射襯度像和相位襯度像時(shí)，物鏡在聚焦方面有何不同？為什么？
答案：
質(zhì)厚襯度：入射電子透過(guò)非晶樣品時(shí)，由于樣品不同微區(qū)間存在原子序數(shù)或厚度的差異，導(dǎo)致透過(guò)不同區(qū)域落在像平面上的電子數(shù)不同，...
