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A.本實(shí)驗(yàn)用穩(wěn)恒磁場(chǎng)模擬靜電場(chǎng)，實(shí)驗(yàn)方法屬于物理模擬
B.本實(shí)驗(yàn)用穩(wěn)恒電流場(chǎng)模擬靜電場(chǎng)，實(shí)驗(yàn)方法屬于物理模擬
C.本實(shí)驗(yàn)用穩(wěn)恒磁場(chǎng)模擬靜電場(chǎng)，實(shí)驗(yàn)方法屬于數(shù)學(xué)模擬
D.本實(shí)驗(yàn)用穩(wěn)恒電流場(chǎng)模擬靜電場(chǎng)，實(shí)驗(yàn)方法屬于數(shù)學(xué)模擬

A.光速測(cè)量的誤差主要來(lái)源于波長(zhǎng)測(cè)量的誤差
B.電路不穩(wěn)定造成的相移變化是較緩慢的。在這種情況下，只要測(cè)量所用的時(shí)間足夠短，就可以把相移的緩慢變化作線性近似
C.采用發(fā)射光束中不同的位置進(jìn)行測(cè)量不會(huì)給波長(zhǎng)測(cè)量帶來(lái)誤差
D.光源的位相一致性好壞及信號(hào)強(qiáng)度的大小不會(huì)影響測(cè)量的準(zhǔn)確性和精度