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問答題
【簡(jiǎn)答題】在微米或納米量級(jí)上觀察樣品的表面形貌可以用什么方法？
答案：
在微米量級(jí)省可采用SEM和光學(xué)顯微鏡觀察。
在納米量級(jí)可采用SEM、TEM、AFM、STM等方法進(jìn)行觀察。
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問答題
【簡(jiǎn)答題】原子力顯微鏡（AFM）和隧道掃描顯微鏡（STM）的工作原理有什么不同？
答案：
AFM的工作原理是利用原子之間的范德華力的作用來呈現(xiàn)樣品的表面特征，而STM的工作原理是基于量子力學(xué)的隧道電流效應(yīng)，通過...
問答題
【簡(jiǎn)答題】紅外光譜和拉曼光譜有何區(qū)別？在分析樣品時(shí)如何選擇測(cè)試方法？
答案：
兩者的本質(zhì)區(qū)別是：紅外是吸收光譜，拉曼是散射光譜；拉曼光譜與紅外光譜兩種技術(shù)包含的信息量通常是互補(bǔ)的。此外，兩者產(chǎn)生的機(jī)...
