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【簡(jiǎn)答題】用平晶測(cè)量平面度誤差時(shí)應(yīng)如何評(píng)定?
答案:
應(yīng)用光學(xué)平晶測(cè)量小平面,測(cè)量時(shí)將平晶貼于被測(cè)表面上,若被測(cè)表面內(nèi)凹或外凸,就會(huì)出現(xiàn)環(huán)形干涉帶,根據(jù)環(huán)形干涉帶數(shù)與光波的半...
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【簡(jiǎn)答題】用自準(zhǔn)直儀測(cè)量平面度誤差時(shí)應(yīng)注意什么問題?
答案:
用自準(zhǔn)直儀測(cè)量平面度誤差時(shí),是將自準(zhǔn)直儀置于被測(cè)零件之外的基座上,將反射鏡安放在橋板上,并將橋板置于被測(cè)表面上。測(cè)量時(shí),...
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【簡(jiǎn)答題】用水平儀測(cè)量平面度誤差時(shí)應(yīng)注意什么問題?
答案:
用水平儀測(cè)量平面度誤差是以自然水平面作為測(cè)量基準(zhǔn),測(cè)量時(shí)應(yīng)先把被預(yù)測(cè)實(shí)際表面調(diào)整到大致水平。然后把水平儀安放在橋板上,再...
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