問答題

【簡(jiǎn)答題】用平晶測(cè)量平面度誤差時(shí)應(yīng)如何評(píng)定?

答案: 應(yīng)用光學(xué)平晶測(cè)量小平面,測(cè)量時(shí)將平晶貼于被測(cè)表面上,若被測(cè)表面內(nèi)凹或外凸,就會(huì)出現(xiàn)環(huán)形干涉帶,根據(jù)環(huán)形干涉帶數(shù)與光波的半...
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