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A.由于內(nèi)嵌測試模式發(fā)生器，不需要額外生成測試模式
B.由于只輸出GO/NOGO，故障分析很困難
C.由于內(nèi)嵌測試輸出評估部，不需要高價測試設(shè)備，可降低成本
D.不可用于Burn-In測試

A.禁止使用循環(huán)組合電路
B.FF的時鐘信號必須能夠從外部端口直接控制
C.FF的復(fù)位信號必須能夠從外部端口直接控制
D.掃描測試時，RAM和內(nèi)核需要分開進(jìn)行設(shè)計

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