A.根據(jù)探測范圍選擇適當厚度的試塊,以一次底回波設定 B.根據(jù)探測范圍選擇適當厚度的試塊,以兩次以上底 C.可以按被檢材料聲速設定,而不需要使用試塊 D.以上都可以
A.可以利用被檢件底面回波調(diào)整時基線; B.利用兩次或兩次以上回波作為基準回波; C.調(diào)整時,應同時校正零位; D.以上都是。
A.已知厚度的大平底零件 B.標準試塊 C.對比試塊 D.以上都可以