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A.測(cè)試組件與組件之間的接口
B.組件與硬件的關(guān)聯(lián)
C.發(fā)現(xiàn)缺陷，以及驗(yàn)證組件的功能
D.驗(yàn)證系統(tǒng)的功能

A.每個(gè)開發(fā)活動(dòng)都有相應(yīng)的測(cè)試活動(dòng)
B.每個(gè)測(cè)試級(jí)別都有其特有的測(cè)試目標(biāo)
C.對(duì)于每個(gè)測(cè)試級(jí)別，需要在相應(yīng)的開發(fā)活動(dòng)過程中進(jìn)行相應(yīng)的測(cè)試分析和設(shè)計(jì)
D.在開發(fā)生命周期中，測(cè)試員在文檔中間階段就應(yīng)該參與文檔的評(píng)審