問答題

【簡答題】電子探針對材料的成分分析與EDXRF成分分析有何異同？

答案： （1）異：EDXRF檢測的是由X射線激發(fā)產(chǎn)生的熒光X射線，EPMA檢測的是由電子束激發(fā)產(chǎn)生的特征X射線。
（2...
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問答題

【簡答題】簡述能譜分析和波譜分析的異同。
答案： （1）同：檢測特征X射線的波長和強度是由X射線譜儀（波譜儀或能譜儀）來完成的。
（2）異：
1.波長...
問答題

【簡答題】簡述SEM在材料研究的主要用途。
答案： （1）形貌相研究：適用于微細礦物材料的形態(tài)、解理、晶面花紋、生長紋、斷口及裂理紋等表面特征和礦物顆粒的空間關(guān)系等。
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