問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述掃描電鏡圖像襯度的產(chǎn)生原因、類型及主要特點(diǎn)。

答案： SEM像襯度的形成主要基于樣品微區(qū)如表面形貌、原子序數(shù)、晶體結(jié)構(gòu)、表面電場(chǎng)和磁場(chǎng)等方面存在著差異。入射電子與之相互作用，...
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問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述掃描電鏡的結(jié)構(gòu)和特點(diǎn)（與TEM進(jìn)行對(duì)比）。
答案： SEM主要由電子光學(xué)系統(tǒng)、掃描系統(tǒng)、信號(hào)收集系統(tǒng)、圖像顯示記錄系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和電源系統(tǒng)。
SEM的電子槍和聚光...
問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述掃描電鏡的基本原理。
答案： SEM是利用聚焦電子束在試樣表面逐點(diǎn)掃描成像，試樣為塊狀或粉末顆粒，成像信號(hào)可以是二次電子、背散射電子或吸收電子等，其中...
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