A.所設(shè)計的產(chǎn)品滿足設(shè)計意圖 B.過程失效模式的設(shè)計過程中完全忽視設(shè)計意圖 C.設(shè)計失效模式完全脫離過程失效模式分析 D.所有的潛在失效模式都會包含在內(nèi),包括設(shè)計弊端
A.高發(fā)生率 B.發(fā)生率*檢測>50 C.嚴(yán)重度高 D.檢測頻率高
A.只有材料改變時 B.是 C.不是 D.只有在風(fēng)險優(yōu)先指數(shù)高于100時