單項(xiàng)選擇題

LKJ關(guān)鍵存儲芯片EPROM類型的抽樣檢測試驗(yàn)時(shí)，反復(fù)擦除.寫入次數(shù)不應(yīng)低于（）次，對于RAM.Flash.DOC等可改寫芯片，反復(fù)擦除.寫入次數(shù)不應(yīng)低于（）次，按鍵面膜按鍵次數(shù)應(yīng)不低于（）次。

A.100，10000，50000
B.50，100000，200000
C.20，200000，100000
D.10，100000，100000

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