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X射線熒光分析時基體效應的基體與光電直讀光譜分析用的鐵基樣品、鎳基樣品、鉻基樣品的鐵基、鎳基、鉻基含意是一樣的。
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X射線熒光光譜內(nèi)標法,即把一定量的內(nèi)標元素加入到標準試料及分析試料中,以標準試料中分析元素與內(nèi)標元素的X射線熒光強度比與分析元素含量繪制校準曲線。測定分析試料的分析元素與內(nèi)標元素的X射線熒光強度比,從校準曲線求得分析元素含量。
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X射線熒光光譜法分析線的強度與分析面的磨紋方向有關(guān),因此,在測量時采取轉(zhuǎn)動試樣的方法,以減少誤差。
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