問答題

【簡(jiǎn)答題】為了消除X射線熒光定量分析時(shí)的基體效應(yīng),除了內(nèi)標(biāo)法和標(biāo)準(zhǔn)加入法外,還有哪幾種方法?

答案: 比較標(biāo)準(zhǔn)法、薄膜法和稀釋法
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【簡(jiǎn)答題】X射線單色器中的分析儀晶為什么要求由低原子序數(shù)的元素組成?

答案: 低原子序數(shù)的元素分析儀晶不會(huì)產(chǎn)生L或M級(jí)x射線熒光,避免產(chǎn)生高背景。
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【簡(jiǎn)答題】進(jìn)行X射線熒光定量分析時(shí),可采用內(nèi)標(biāo)法,內(nèi)標(biāo)物與其它色譜法中的內(nèi)標(biāo)物有哪兩個(gè)不同的特殊要求?

答案: 內(nèi)標(biāo)物元素與被測(cè)元素的激發(fā)X射線波長(zhǎng)相近;基體對(duì)二者的X射線熒光吸收相近,即基體效應(yīng)可相互抵消。
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