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A.測(cè)試是程序的運(yùn)行過程，目的在于發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤
B.一個(gè)好的測(cè)試用例在于能夠發(fā)現(xiàn)至今未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤
C.一個(gè)成功的測(cè)試是發(fā)現(xiàn)了至今未發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤的測(cè)試
D.測(cè)試的目標(biāo)是以最少的時(shí)間和人力改正軟件中潛在的各種錯(cuò)誤和缺陷

A.需求錯(cuò)誤、集成錯(cuò)誤、系統(tǒng)結(jié)構(gòu)錯(cuò)誤
B.測(cè)試定義與測(cè)試執(zhí)行錯(cuò)誤、實(shí)現(xiàn)和編碼錯(cuò)誤、數(shù)據(jù)錯(cuò)誤
C.需求錯(cuò)誤、程序結(jié)構(gòu)錯(cuò)誤、集成錯(cuò)誤
D.程序結(jié)構(gòu)錯(cuò)誤、數(shù)據(jù)錯(cuò)誤、功能與性能錯(cuò)誤