A.元器件參數(shù)所取數(shù)值的誤差 B.用戶使用環(huán)境條件變化形成的誤差 C.重復(fù)試驗中的隨機(jī)誤差 D.產(chǎn)品制造過程中工藝條件變化形成的誤差
A.XR圖可適用于非正態(tài)的過程 B.XR有更高的檢出力 C.XR圖作圖更為簡便 D.XR圖需要更少的樣本含量
在X圖中,下列情況可判為異常()UCLABCCLCBALCL
A.連續(xù)3點中有2點落在中心線同一側(cè)的B區(qū)以外 B.連續(xù)15點落在中心線兩側(cè)的C區(qū)內(nèi) C.連續(xù)9點落在中心線同一側(cè) D.連續(xù)4點遞增或遞減