A.模型過擬合是指把訓(xùn)練樣本本身特點(diǎn)當(dāng)做所有潛在樣本都會具有的一般性質(zhì)B.分類器在訓(xùn)練數(shù)據(jù)上錯(cuò)誤率很低,但在測試數(shù)據(jù)上的錯(cuò)誤率仍然很高,此時(shí)模型很可能處于過擬合狀態(tài)C.分類器在測試數(shù)據(jù)上錯(cuò)誤率很高就是處于過擬合狀態(tài)D.欠擬合是指模型在訓(xùn)練樣本的一般性質(zhì)尚未被學(xué)習(xí)器學(xué)好
A.地面控制點(diǎn)B.像點(diǎn)坐標(biāo)C.POS數(shù)據(jù)D.地面檢查點(diǎn)
A.可見光遙感B.近紅外遙感C.微波遙感D.高光譜遙感