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問答題
【簡答題】測試的一般要求。
答案：
必須按照微電子器件試驗(yàn)方法的軍用國家標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測試，其中就對測試環(huán)境提出了嚴(yán)格的要求，這樣可以避免外界因素對器件造成的誤差...
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問答題
【簡答題】IIH/IIL集體測試法優(yōu)缺點(diǎn)。
答案：
優(yōu)點(diǎn)：能在短時間內(nèi)迅速進(jìn)行漏電流的測試。
缺點(diǎn)：
1.測試對象有限，只能運(yùn)用于高輸入阻抗的器件；
缺點(diǎn)：
1.測試對象有限，只能運(yùn)用于高輸入阻抗的器件；
