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問答題
【簡答題】IDD靜態(tài)電流測試方法。
答案：
1、運(yùn)行一定的測試向量將器件進(jìn)入低功耗狀態(tài)；
2、器件保持在低功耗裝態(tài)下，測量流入VDD的電流；
3...
2、器件保持在低功耗裝態(tài)下，測量流入VDD的電流；
3...
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問答題
【簡答題】Open-short功能測試優(yōu)缺點(diǎn)。
答案：
優(yōu)點(diǎn)
相對于DC串行/靜態(tài)法，運(yùn)行測試向量要快得多。
缺點(diǎn)
datalog顯示的結(jié)果信息有...
相對于DC串行/靜態(tài)法，運(yùn)行測試向量要快得多。
缺點(diǎn)
datalog顯示的結(jié)果信息有...
問答題
【簡答題】Open-short串行靜態(tài)測試方法優(yōu)缺點(diǎn)。
答案：
優(yōu)點(diǎn)
當(dāng)一個(gè)失效（failure）發(fā)生時(shí)，其準(zhǔn)確的電壓測量值會(huì)被數(shù)據(jù)記錄（datalog）顯示出來，不管它是O...
當(dāng)一個(gè)失效（failure）發(fā)生時(shí)，其準(zhǔn)確的電壓測量值會(huì)被數(shù)據(jù)記錄（datalog）顯示出來，不管它是O...
