問答題

【簡(jiǎn)答題】TOFD檢測(cè)方法的優(yōu)點(diǎn)有哪些?

答案: (1)缺陷定量、定位精度高,容易檢出方向性不好的缺陷,可以識(shí)別向表面延伸的缺陷。
(2)缺陷檢出能力強(qiáng)。
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【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述CSK—ⅠA試塊的主要作用。

答案: CSK—IA試塊的主要作用是:
(1)測(cè)斜探頭的入射點(diǎn)、折射角(K值)。
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