A.磨除下前牙切端使之有2mm空隙
B.拔除下前牙后,上下前牙義齒修復(fù)
C.在義齒的上磨牙區(qū)做牙合墊
D.在義齒上前牙區(qū)基托附平面導(dǎo)板,擇期再行修復(fù)
E.在義齒上前牙區(qū)加斜面導(dǎo)板
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A.覆蓋過大
B.牙合平面偏高
C.牙尖斜度過大
D.頰尖過銳
E.頰側(cè)覆蓋過小
A.模型觀測(cè)應(yīng)該采用平均倒凹法
B.44、34基牙上應(yīng)采取RPI卡環(huán)
C.基牙可以選擇全部余留牙
D.下頜牙槽嵴區(qū)取印模時(shí)應(yīng)盡量擴(kuò)展
E.應(yīng)該采用閉口式印模
A.人工牙牙合面面積小
B.人工牙垂直距離過低,咀嚼效率低
C.人工牙牙合面無食物排溢道
D.咬合低
E.人工牙牙尖斜度不夠高
A.基托進(jìn)入倒凹區(qū)
B.牙合力大,義齒下沉
C.基托伸展過長,刺激黏膜轉(zhuǎn)折處
D.義齒支持不足,壓迫黏膜
E.基托不密合,翹動(dòng)引起
A.就位道不一致
B.有早接觸點(diǎn)
C.基牙牙髓炎
D.鄰接過緊
E.鄰牙根尖病變
A.1.0mm
B.1~2mm
C.2~3mm
D.3~4mm
E.5mm
A.石膏包埋材料
B.磷酸鹽包埋材料
C.硅膠包埋材料
D.正硅酸乙酯包埋材料
E.硅溶膠包埋材料
A.用咬蠟的方法記錄余留牙的咬合關(guān)系
B.用蠟堤記錄垂直距離
C.用蠟堤記錄正中關(guān)系
D.用蠟堤記錄垂直距離與正中關(guān)系
E.直接用模型咬合確定垂直距離和正中關(guān)系
A.回力卡
B.桿形卡
C.對(duì)半卡
D.聯(lián)合卡
E.圈形卡
A.第一分類一亞類
B.第一分類二亞類
C.第二分類
D.第三分類
E.第四分類
最新試題
會(huì)導(dǎo)致食物嵌塞的是()
頰舌側(cè)卡臂尖均可進(jìn)入倒凹區(qū),適合于近遠(yuǎn)中均有缺隙的孤立磨牙或前磨牙()
需要用蠟牙合記錄確定頜位記錄的是()
前牙排列覆蓋過?。ǎ?/p>
具有應(yīng)力中斷作用()
用于前后有缺隙孤立的前磨牙或磨牙()
斜坡型者舌桿應(yīng)離開黏膜()
前腭桿到齦緣的距離是()
箱狀固位形的深度至少為()
金瓷冠切端牙體磨除厚度一般為()