問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】測(cè)試與調(diào)試區(qū)別是什么?

答案:

軟件測(cè)試時(shí)檢驗(yàn)程序是否有錯(cuò)誤,調(diào)試則是發(fā)現(xiàn)程序錯(cuò)誤的位置、原因以及改正錯(cuò)誤等。軟件調(diào)試是發(fā)生在測(cè)試之后的步驟。

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【簡(jiǎn)答題】在您平時(shí)的實(shí)踐中,一條軟件缺陷(或者叫Bug)記錄都包含了哪些內(nèi)容?如何提交高質(zhì)量的軟件缺陷(Bug)記錄?

答案:

問(wèn)題概要描述、發(fā)現(xiàn)人、發(fā)布/構(gòu)建版本號(hào)、測(cè)試環(huán)境、缺陷類型、缺陷發(fā)現(xiàn)步驟、缺陷指派給的人、優(yōu)先級(jí)、重要性。

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