產(chǎn)品仿制、新產(chǎn)品設(shè)計(jì)、舊產(chǎn)品改進(jìn)、損壞磨損產(chǎn)品的還原、數(shù)字化模型的檢測(cè)、其他應(yīng)用
接觸式三坐標(biāo)測(cè)量、非接觸式激光掃描測(cè)量、逐層掃描測(cè)量.
不同之處在于起點(diǎn)不同,相應(yīng)的設(shè)計(jì)自由度和設(shè)計(jì)要求也不同。