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問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述NaI（Tl）探測(cè)器的特征X射線逃逸以及對(duì)譜線的影響。

答案：當(dāng)γ光子在晶體內(nèi)發(fā)生光電效應(yīng)時(shí)，原子的相應(yīng)殼層上將留一空位，當(dāng)外層電子補(bǔ)入時(shí)，會(huì)有特征X射線或俄歇電子發(fā)出。...

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