A.結(jié)構(gòu)和機(jī)械試驗(yàn); B.電磁兼容試驗(yàn); C.絕緣性能試驗(yàn); D.電源影響試驗(yàn)。
A.ADC; B.DAC; C.DSP; D.CPU。
A.時(shí)段控、廠休控、營業(yè)報(bào)???、當(dāng)前功率下浮控; B.廠休控、營業(yè)報(bào)??亍?dāng)前功率下浮控、時(shí)段控; C.時(shí)段控、營業(yè)報(bào)??亍S休控、當(dāng)前功率下浮控; D.時(shí)段控、廠休控、當(dāng)前功率下浮控、營業(yè)報(bào)停控。