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內(nèi)存的指標(biāo)包括()
A.存取時(shí)間
B.CAS延遲時(shí)間
C.奇偶校驗(yàn)
D.ECC
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D.SSTL2
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多項(xiàng)選擇題
目前大多數(shù)的SDRAM芯片的存取時(shí)間為()ns.
A.5
B.6
C.7
D.8
E.9
F.10
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