單項(xiàng)選擇題

對(duì)于下列GIS典型缺陷，超聲波局部放電檢測(cè)技術(shù)不靈敏的是（）。

A.自由金屬顆粒；
B.絕緣內(nèi)部氣隙；
C.內(nèi)部電暈；
D.懸浮電極。

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