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單項(xiàng)選擇題

對運(yùn)用中的懸式絕緣子串劣化絕緣子的檢出測量，不應(yīng)選用（）的方法。

A、測量電位分布；
B、火花間隙放電叉；
C、熱紅外檢測；
D、測量介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ。

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單項(xiàng)選擇題

對已有單獨(dú)試驗(yàn)記錄的若干不同試驗(yàn)電壓的電力設(shè)備，在單獨(dú)試驗(yàn)有困難時，可以連在一起進(jìn)行耐壓試驗(yàn)。此時，試驗(yàn)電壓應(yīng)采用所連接設(shè)備中試驗(yàn)電壓的（）。

A、最高值；
B、最低值；
C、最高值與最低值之和的平均值；
D、各試驗(yàn)電壓之和的平均值。

單項(xiàng)選擇題

在直流耐壓試驗(yàn)的半波整流電路中，高壓硅堆的最大反向工作電壓，不得低于試驗(yàn)電壓幅值的（）。

A、2.83倍；
B、2倍；
C、1倍；
D、1.414倍。

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