判斷題

探頭晶片尺寸大,輻射的超聲波能量大,探頭未擴散區(qū)掃查范圍大,遠(yuǎn)距離掃查范圍相對變小,發(fā)現(xiàn)遠(yuǎn)距離缺陷能力增強。

答案: 正確
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表面波探頭用于探測工件表面缺陷。

答案: 正確
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