單項(xiàng)選擇題

超聲波檢驗(yàn)中，選用晶片尺寸大的探頭的優(yōu)點(diǎn)是（）

A、曲面探傷時(shí)減少耦合損失
B、減少材質(zhì)衰減損失
C、輻射聲能大且能量集中
D、以上都對(duì)

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