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A.- 使用正式或非正式的模型來(lái)描述需要解決的問(wèn)題、軟件或其組件等； - 對(duì)可能存在的缺陷及其分布情況的了解作為另一個(gè)信息來(lái)源；
B.- 可以通過(guò)已有的測(cè)試用例測(cè)量軟件的測(cè)試覆蓋率，并通過(guò)系統(tǒng)化的導(dǎo)出設(shè)計(jì)用例來(lái)提高覆 蓋率；- 使用正式或非正式的模型來(lái)描述需要解決的問(wèn)題、軟件或其組件等；
C.- 測(cè)試人員、開(kāi)發(fā)人員、用戶和其他的利益相關(guān)者對(duì)軟件、軟件使用和環(huán)境等方面所掌握的 知識(shí)作為信息來(lái)源之一；- 對(duì)可能存在的缺陷及其分布情況的了解作為另一個(gè)信息來(lái)源； 
D.- 測(cè)試人員、開(kāi)發(fā)人員、用戶和其他的利益相關(guān)者對(duì)軟件、軟件使用和環(huán)境等方面所掌握的 知識(shí)作為信息來(lái)源之一；- 使用正式或非正式的模型來(lái)描述需要解決的問(wèn)題、軟件或其組件等。

A. 23；
B. 24；
C. 25；
D. 26。