A.雜亂 B.平行于晶粒流向 C.垂直線與晶粒流向之間 D.與晶粒流向成45º角
A.確定缺陷深度 B.評定表面缺陷 C.作為評定長條形缺陷的標準 D.作評定點狀缺陷的標準
A.應盡可能減小 B.使二次界面波在底面回波之前 C.使二次界面波在底面回波之后 D.應盡可能的大