判斷題

黑盒測(cè)試往往會(huì)造成測(cè)試用例之間可能存在嚴(yán)重的冗余和未測(cè)試的功能漏洞。

答案：正確

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每一個(gè)軟件項(xiàng)目都有一個(gè)最優(yōu)的測(cè)試量。

答案：正確

軟件缺陷可能會(huì)被修復(fù)，可能會(huì)被保留或者標(biāo)識(shí)出來(lái)。

答案：正確