多項(xiàng)選擇題

在晶體管內(nèi)基片上有一個(gè)裂縫，可以導(dǎo)致集電極到發(fā)射極開路，在這里（）

A.“集電極到發(fā)射極開路”是故障原因（機(jī)理）
B.“集電極到發(fā)射極開路”是故障模式
C.“晶體管內(nèi)基片上有裂縫”是故障原因（機(jī)理）
D.“晶體管內(nèi)基片上有裂縫”是故障模式

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