判斷題

對于良好絕緣的tanδ測試,在額定電壓以下時(shí),隨著試驗(yàn)電壓U的升高而降低。

答案: 錯(cuò)誤
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判斷題

直流泄漏電流測量施加的直流試驗(yàn)電壓較高,屬于破壞性試驗(yàn)。

答案: 錯(cuò)誤
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