A.可測(cè)性設(shè)計(jì)就是在設(shè)計(jì)階段考慮測(cè)試因素，犧牲一部分芯片面積換得測(cè)試的容易化
B.可測(cè)性設(shè)計(jì)使用自動(dòng)生成工具（ATPG），易于生成故障覆蓋率高的測(cè)試模式
C.可測(cè)性設(shè)計(jì)由于增加了設(shè)計(jì)負(fù)荷，將一定導(dǎo)致芯片整體開(kāi)發(fā)成本的增加
D.可觀(guān)察性與可控制性是衡量可測(cè)性設(shè)計(jì)的兩個(gè)尺度