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在一般情況下,介損tgδ試驗主要反映設(shè)備絕緣整體缺陷,而對局部缺陷反映不靈敏。
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幾個試品并聯(lián)在一起進行試驗時,若測得的電流為I,則流過每一個試品的電流都小于I。
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測量絕緣電阻可以有效地發(fā)現(xiàn)固體絕緣非貫穿性裂紋。
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